科创中国

行业领域

电子信息技术,微电子技术

需求背景

随着科技的飞速发展，集成电路技术不断进步，芯片的功能和复杂性不断增加。芯片的测试作为集成电路设计流程中的重要环节，对于保证芯片的性能和质量具有至关重要的作用。然而，传统的芯片测试方法往往依赖于人工操作，测试效率低下，且易受人为因素影响。因此，发展自动化芯片测试系统已成为业界迫切的需求。

近年来，计算机技术和自动化技术的发展为自动化芯片测试系统的实现提供了可能。自动化芯片测试系统可以实现对芯片的快速、准确、自动化的测试，大大提高了测试效率，降低了测试成本，且能够保证测试的一致性和准确性。此外，随着芯片复杂性的增加，传统的测试方法已经无法满足需求，自动化芯片测试系统能够适应这一趋势，实现对复杂芯片的高效测试。

需解决的主要技术难题

1. 测试覆盖率：在芯片测试中，测试覆盖率是一个关键问题。如何确保测试用例能够覆盖芯片的所有功能和可能情况，是自动化测试系统面临的一个重要挑战。这涉及到如何设计测试用例，如何选择测试输入，以及如何验证测试结果等。

 2. 测试速度：测试速度是自动化芯片测试系统的另一个重要因素。在短时间内完成大量的测试是提高效率的关键。然而，提高测试速度可能会影响测试的准确性和稳定性。因此，需要在测试速度、准确性和稳定性之间找到一个平衡。 

 3. 功耗和热量管理：随着芯片复杂性的增加，功耗和热量管理变得越来越重要。自动化芯片测试系统需要解决如何在测试过程中有效地控制和管理芯片的功耗和热量，以避免对芯片造成损害或影响测试结果。 

 4. 信号完整性：在高速芯片测试中，信号完整性是一个关键问题。如何确保测试系统能够准确地捕捉和处理高速信号，以及如何避免信号干扰和噪声，是自动化芯片测试系统需要解决的重要技术难题。

期望实现的主要技术目标

（1）要求不同器件采用统一接口在测试板插座上插拔，同时软硬件具有钳位保护，整个测试可以更加简易、高效、安全的进行； 

（2）与仪器之间采用VISA通信，保证对多台仪器通信的并行处理，使各个仪器的数据不会相互干扰，并能全程保持通讯状态，不会丢包； 

（3）所有仪器的连接可在硬件设置界面通过自动检测的功能实现，并支持仪器更换品牌型号的兼容；

（4）所有测试线缆均采用同轴线缆，有效的避免外界电磁干扰对系统采集数据的影响，使数据更精准。

需求解析

解析单位：“科创中国”技术交易专业科技服务团（上海）（上海技术交易所有限公司） 解析时间：2023-11-13

朱娟

上海技术交易所

技术经理人

综合评价

本需求明晰，实现难度较小。对于多个行业具有重要影响力。在半导体制造过程中，自动化芯片测试系统可以对制造的芯片进行功能和性能测试，以确保芯片的质量和性能符合设计要求。 可用于封装测试，在芯片封装完成后，自动化测试系统可以对其进行功能和性能测试，以确保封装的正确性和可靠性。在芯片设计和研发过程中，自动化测试系统可以用于验证芯片的功能和性能，以确保其符合设计要求和质量标准。通过自动化测试系统对生产过程中的芯片进行实时监测和测试，可以实现对生产过程的有效控制，提高生产效率和产品质量。

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