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本发明适用于测试领域，提供了一种加密芯片安全性能测试方法和装置，该方法包括：根据所述加密芯片的加密算法，确定加密算法中错误注入攻击的被攻击参数；查找在所述加密芯片中与计算所述被攻击参数相关的敏感寄存器并插入扫描链；使被攻击芯片工作在测试模式下，由扫描输出所述被攻击参数的扫描输出结果确定加密芯片的安全性。本发明实施例由于采用扫描链插入到与被攻击参数相关的敏感寄存器，从而能够获取被攻击参数的变化，从而更加直观的判断是否产生有效的错误，有效提高加密芯片安全性的测试效率。

1. 一种加密芯片安全性能测试方法，其特征在于，所述方法包括： 根据所述加密芯片的加密算法，确定加密算法中错误注入攻击的被攻击参数； 根据所述错误注入攻击的被攻击参数，查找在所述加密芯片中与计算所述被攻击参数 相关的敏感寄存器，所述敏感寄存器为根据被攻击参数的表达式，得到与计算所述被攻击 参数相关的因子，该相关的因子定义的寄存器存储空间； 在计算所述被攻击参数相关的敏感寄存器插入扫描链； 根据输入的测试向量以及所述错误注入攻击，扫描输出所述被攻击参数的扫描输出结 果； 将被攻击的扫描输出结果与期望的扫描输出结果比较，根据比较结果确定加密芯片的 安全性。 2. 根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述加密算法为对称加密算法或者非对称加 密算法。

随着通信技术的发展，信息安全也显得越来越重要。虽然芯片中有复杂的加解密 算法和密钥保护机制，但是，芯片仍然容易受到诱导错误攻击，从而造成芯片中的数据内容 的泄露。为避免芯片受到诱导错误攻击时的数据泄露，比如私钥的泄露，需要对安全芯片 内的加密电路的安全性和稳定性进行测试。其中，错误注入攻击就是一种广泛使用的、用来 评估加密芯片的容错能力以及、故障对加密芯片影响的安全性能测试方法。

加密芯片的错误注入攻击原理是:通过人为的注入一定的错误，根据错误传输机 理和加解密的结果分析出密钥信息的方法。其中，常见的用于注入的诱导错误包括：电压和 时钟突变错误、激光诱导错误、X射线和离子束注入错误。

中国科学院深圳先进技术研究院提升了粤港地区及我国先进制造业和现代服务业的自主创新能力，推动我国自主知识产权新工业的建立，成为国际一流的工业研究院。 深圳先进院目前已初步构建了以科研为主的集科研、教育、产业、资本为一体的微型协同创新生态系统，由九个研究平台，国科大深圳先进技术学院，多个特色产业育成基地、多支产业发展基金、多个具有独立法人资质的新型专业科研机构等组成。开展先进技术研究，促进科技发展。信息、电子、通讯技术研究新材料、新能源技术研究高性能计算、自动化、精密机械研究生物医学与医疗仪器研究相关学历教育、博士后培养与学术交流。

根据芯片的加密算法确定注入的错误攻击的被攻击参数，并 根据所述被攻击参数，查找在计算所述被攻击参数所使用的相关的寄存器，称之为敏感寄 存器，并将敏感寄器中插入到扫描链中，扫描输出被攻击参数因注入的错误攻击而产生的 变化结果，并将被攻击参数的输出结果与期望的扫描输出结果比较，确定加密芯片的安全 性。本发明实施例由于将敏感寄存器插入到扫描链中，从而能够获取被攻击参数的变化，从 而更加直观的判断是否产生有效的错误，有效提高加密芯片安全性的测试效率。

技术合作

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精 神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。