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芯片瞬态故障失效概率评估方法及系统

发布时间: 2024-10-28

来源: 科技服务团

基本信息

合作方式： 技术转让
成果类型： 发明专利
行业领域：
电子信息技术,微电子技术
成果介绍
本发明实施例提供一种芯片瞬态故障失效概率评估方法及系统，属于芯片测试技术领域。所述方法包括：基于测试要求，进行LET值预设，并基于预设的LET值进行目标芯片测试的泊松分布概率模型构建；在所述泊松分布概率模型中，基于伯努利实验模型进行目标芯片测试，基于采样周期进行测试结果采集；基于所述测试结果计算所述泊松分布概率模型的泊松分布参数；基于所述泊松分布参数和所述测试结果获得所述目标芯片的失效概率。本发明方案实现了高效且准确的芯片瞬态故障失效概率评估。
成果亮点
本发明方案充分考虑了静态测试和动态测试的优势，基于瞬态故障符合泊松分布的特性进行模型构建。然后动态地进行伯努利实验，获得实验参数，将实验参数作为动态结果，与静态构建的泊松分布概率模型进行组合处理，使得极短的测试时间内获得长时间动态测试的预测结果，通过预测结果进行目标芯片的失效概率评估，实现了高效且准确的芯片瞬态故障失效概率评估。
团队介绍
智芯微电子是一家集成电路研发商，公司形成芯片传感、通信控制、用电节能三大业务方向，产品可应用于电网安全稳定分析与控制、继电保护、电网调度自动化、变电站自动化等领域，同时公司为用户提供以芯片为核心支撑的安全类、监控类、服务类业务解决方案。
成果资料