需求发布 成果发布 科创案例库 揭榜挂帅
技术路演 会议展览 科创联合体 项目申报
前沿动态 科技政策 院士开讲 青托工程
科技服务团 学术资源
试点城市(园区) 双创活动周
协作站点 学会服务
问题库 项目库 开源库
English
您所在的位置: 成果库 功率半导体模块及其使用寿命检测方法和逆变器装置

功率半导体模块及其使用寿命检测方法和逆变器装置

发布时间: 2024-09-23

基本信息

合作方式： 技术服务
成果类型： 发明专利
行业领域：
制造业
成果介绍
本发明提供了一种功率半导体模块及其寿命检测方法和逆变器装置，包括：功率半导体器件；饱和压降检测单元，与所述功率半导体器件电性连接，以用于检测所述功率半导体器件的饱和压降VCESAT；以及寿命提示单元，与所述饱和压降检测单元相连接，并能够根据所述饱和压降VCESAT发出提示信息。
成果亮点
所述提示信息指示所述功率半导体器件的使用寿命，由于影响功率半导体器件寿命的主要原因是功率半导体器件材料结合部连接劣化，一般主要发生在绑定线与芯片结合处、芯片与DBC绝缘基板焊锡层、DBC绝缘基板与铜底板焊锡层，以上三处的连接劣化(松脱或剥离)都会导致连接处的电阻升高，进而导致饱和压降VCESAT的升高，通过对饱和压降VCESAT的检测，测算功率半导体器件的使用寿命。
团队介绍
富士电机为多元化集团公司，所生产产品在业内知名度及产品质量上均属于国际一流产品行列；每年在产品研发及更新换代的投资占总营业额的6%左右，亦是行业内唯一一家具备中频炉设备研发，逆变器件、驱动系统、控制系统、电气部品自主生产设计的企业。专利发明人：李俊
成果资料