成果介绍
本实用新型提供一种芯片单独寿命预测模块,能够单独地预测芯片的寿命以决定是否更换,其包括:芯片(10),将该芯片的一部分区域作为检测区域(11)。
成果亮点
阻抗检测单元(21),通过绑定线(60)连接至检测区域(11),检测出检测区域(11)的阻抗作为芯片(10)的阻抗;以及判断单元(22),根据阻抗检测单元(21)检测到的芯片(10)的阻抗,来判断芯片(10)的劣化是否超过预先设定的阈值,从而决定是否需要更换。
团队介绍
富士电机为多元化集团公司,所生产产品在业内知名度及产品质量上均属于国际一流产品行列;每年在产品研发及更新换代的投资占总营业额的6%左右,亦是行业内唯一一家具备中频炉设备研发,逆变器件、驱动系统、控制系统、电气部品自主生产设计的企业。专利发明人: 项澹颐
成果资料