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基于行列扫描的ILV故障测试电路及测试方法，涉及集成电路测试与可测性设计领域。本发明是为了解决现有针对ILVs的故障测试方法中多数方法电路占用面积大，而电路占用面积小的方法又无法对故障进行定位的问题。本发明输入移位寄存器的测试信号输入端作为所述ILV故障测试电路的测试信号输入端，输入移位寄存器的测试信号输出端分别与菊花链一一对应，输入移位寄存器的每个测试信号输出端均与其对应菊花链的测试信号输入端相连；输出移位寄存器的测试信号输出端作为ILV故障测试电路的测试信号输出端，输出移位寄存器的测试信号输入端分别与菊花链一一对应，输出移位寄存器的每个测试信号输入端均与其对应菊花链的测试信号输出端相连。

1.基于行列扫描的ILV故障测试电路，其特征在于，在M×N的被测ILV阵列中，每一行的ILV均通过行三态驱动器首尾顺次连接构成一条行菊花链，每一列的ILV均通过列三态驱动器首尾顺次连接构成一条列菊花链，共有M+N条菊花链； 所述ILV故障测试电路包括：输入移位寄存器和输出移位寄存器； 所述输入移位寄存器的测试信号输入端作为所述ILV故障测试电路的测试信号输入端，所述输入移位寄存器包括M+N个测试信号输出端，该M+N个测试信号输出端分别与M+N条菊花链一一对应，所述输入移位寄存器的每个测试信号输出端均与其对应菊花链的测试信号输入端相连； 所述输出移位寄存器的测试信号输出端作为所述ILV故障测试电路的测试信号输出端，所述输出移位寄存器包括M+N个测试信号输入端，该M+N个测试信号输入端分别与M+N条菊花链一一对应，所述输出移位寄存器的每个测试信号输入端均与其对应菊花链的测试信号输出端相连。

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