需求发布 成果发布 科创案例库 揭榜挂帅
技术路演 会议展览 科创联合体 项目申报
前沿动态 科技政策 院士开讲 青托工程
科技服务团 学术资源
试点城市(园区) 双创活动周
协作站点 学会服务
问题库 项目库 开源库
English
您所在的位置: 成果库 引线框架检测系统及检测方法

引线框架检测系统及检测方法

发布时间: 2024-03-18

来源: 试点城市（园区）

基本信息

合作方式： 合作开发
成果类型： 发明专利,新技术
行业领域：
电子信息技术
成果介绍
本项新技术发明公开了引线框架检测系统及检测方法，系统包括：检测电源；框架检测放置板，具有若干引线框架放置槽，每个引线框架放置槽底部设置有两个导电点，两个导电点的连线对应于对应引线框架底部的同一金属区域；每个引线框架放置槽与不同待检测引线框架的形状相同；框架检测装置，通过检测电源进行供电，对置于框架检测放置板上的引线框架进行检测；与引线框架放置槽数量相同的控制三极管，源极通过检测电源供电，发射极和集电极位于检测电源和框架检测装置之间；源极和检测电源之间具有同一引线框架放置槽底部的两个导电点。
成果亮点
本发明实现自动图像采集，可避免不匹配的引线框架放入进行检测，而且实现不同引线框架利用不同的框架监测装置进行检测。通过采用先进的图像处理技术和机器学习算法，我们的系统能够快速准确地识别并分析引线框架的质量问题。
团队介绍
我们的团队专注于引线框架检测系统及其检测方法的设计，致力于提供高精度、高效率的检测解决方案。通过采用先进的图像处理技术和机器学习算法，我们的系统能够快速准确地识别并分析引线框架的质量问题。团队汇聚了机器视觉专家、软件工程师和质量控制工程师，共同推进半导体封装领域的质量检测技术，确保产品的高可靠性。
成果资料