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引线框架检测系统及检测方法

发布时间: 2024-03-15

来源: 试点城市（园区）

基本信息

合作方式： 合作开发
成果类型： 发明专利,新技术
行业领域：
电子信息技术
成果介绍
本项新技术发明公开了引线框架检测系统及检测方法，系统包括：检测电源；框架检测放置板，具有若干引线框架放置槽，每个引线框架放置槽底部设置有两个导电点，两个导电点的连线对应于对应引线框架底部的同一金属区域；每个引线框架放置槽与不同待检测引线框架的形状相同；框架检测装置，通过检测电源进行供电，对置于框架检测放置板上的引线框架进行检测；与引线框架放置槽数量相同的控制三极管，源极通过检测电源供电，发射极和集电极位于检测电源和框架检测装置之间；源极和检测电源之间具有同一引线框架放置槽底部的两个导电点。
成果亮点
本发明实现自动图像采集，可避免不匹配的引线框架放入进行检测，而且实现不同引线框架利用不同的框架监测装置进行检测。通过创新技术，提供精确、高效的检测解决方案，旨在优化生产质量控制流程，减少缺陷产品的产出。
团队介绍
我们的设计团队集结了行业内的精英工程师。我们致力于通过创新技术，提供精确、高效的检测解决方案，旨在优化生产质量控制流程，减少缺陷产品的产出。利用我们的系统和方法，客户能够实现对引线框架质量的实时监控，保证产品的可靠性和一致性。
成果资料