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本申请公开了一种集成电路的寿命预测方法、装置及计算机可读存储介质。该方法包括：获取参照集成电路的预估寿命，以及获取所述参照集成电路在设定老化阶段对应的第一时长；获取待测集成电路在相同的所述老化阶段对应的第二时长；根据所述预估寿命、所述第一时长以及所述第二时长，预测所述待测集成电路的寿命；其中，所述参照集成电路与所述待测集成电路为同种规格的集成电路，所述参照集成电路和所述待测集成电路包括多个老化阶段，所述参照集成电路的多个老化阶段与所述待测集成电路的多个老化阶段一一对应，且相对应老化阶段的最大供电电压相同。通过上述方式，本申请能够简化集成电路寿命预测方式，并提高预测结果的准确度。

一种集成电路的寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括： 获取参照集成电路的预估寿命，以及获取所述参照集成电路在设定老化阶段对应的第一时长； 获取待测集成电路在相同的所述老化阶段对应的第二时长； 根据所述预估寿命、所述第一时长以及所述第二时长，预测所述待测集成电路的寿命； 其中，所述参照集成电路与所述待测集成电路为同种规格的集成电路，所述参照集成电路和所述待测集成电路包括多个老化阶段，所述参照集成电路的多个老化阶段与所述待测集成电路的多个老化阶段一一对应，且相对应老化阶段的最大供电电压相同。

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