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基于DMD的荧光光谱探测方法

发布时间: 2023-11-08

来源: 试点城市(园区)

基本信息

合作方式: 技术服务
成果类型: 发明专利
行业领域:
电子信息技术
成果介绍
本发明涉及荧光光谱探测的技术领域,公开了基于DMD的荧光光谱探测方法,包括以下步骤:S1:搭建荧光光谱探测的光学系统,光学系统包括DMD、色散单元和探测器;S2:获取光学系统的光谱矫正系数R,包括以下步骤:S21:测量标准光源的光谱数据L;S22:将标准光源导入光学系统,在DMD上加载多幅光谱图案,测得光谱数据S;则光谱矫正系数R=(S‑B)/L,B为噪声;S3:重建荧光光谱,将标准光源换成待测样品,多幅光谱图案,测得光谱数据I;则待测样品的荧光光谱f=(I*L)/(S‑B)。采用了DMD对色散光进行选择性的输出,充分利用DMD像素级调控的优势对光谱进行拆分、编码和重建,本探测方法的光谱的采样点比多通道探测器多,光谱检测的精度和方式要优于多通道探测器。
成果亮点
.基于DMD的荧光光谱探测方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:搭建荧光光谱探测的光学系统,所述光学系统包括DMD、色散单元和探测器,经由所述色散单元的光入射至所述DMD,后被所述探测器接收; S2:获取所述光学系统的光谱矫正系数R,包括以下步骤: S21:用光谱仪测量标准光源,得到其光谱数据L; S22:将所述标准光源导入所述光学系统,在所述DMD上加载多幅光谱图案,每加载一幅所述光谱图案,所述探测器采集一次信号,此数据记为S; 则所述光谱矫正系数R由以下公式计算: 其中B为测量时产生的噪声; S3:重建荧光光谱,将所述标准光源换成待测样品,激发待测样品产生荧光并将其导入所述光学系统;在所述DMD上加载多幅所述光谱图案,每加载一幅所述光谱图案,所述探测器采集一次信号,此数据记为I; 则待测样品的荧光光谱f由以下公式计算: 2.如权利要求1所述的基于DMD的荧光光谱探测方法,其特征在于,在步骤S22中,在加载所述光谱图案前,用光谱仪标定所述光谱图案的中心波长和光谱带宽。
团队介绍
中国科学院深圳先进技术研究院提升了粤港地区及我国先进制造业和现代服务业的自主创新能力,推动我国自主知识产权新工业的建立,成为国际一流的工业研究院。 深圳先进院目前已初步构建了以科研为主的集科研、教育、产业、资本为一体的微型协同创新生AC态系统,由九个研究平台,国科大深圳先进技术学院,多个特色产业育成基地、多支产业发展基金、多个具有独立法人资质的新型专业科研机构等组成。开展先进技术研究,促进科技发展。信息、电子、通讯技术研究新材料、新能源技术研究高性能计算、自动化、精密机械研究生物医学与医疗仪器研究相关学历教育、博士后培养与学术交流。
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