需求发布 成果发布 科创案例库 揭榜挂帅
技术路演 会议展览 科创联合体 项目申报
前沿动态 科技政策 院士开讲 青托工程
科技服务团 学术资源
试点城市(园区) 双创活动周
协作站点 学会服务
问题库 项目库 开源库
English
您所在的位置: 成果库 一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法及装置

一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法及装置

发布时间: 2023-11-07

来源: 试点城市（园区）

基本信息

合作方式： 技术转让
成果类型： 新技术
行业领域：
制造业
成果介绍
本发明涉及双目相位偏折测量领域，尤其涉及一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法及装置，所述一种基于辅助特征点的双目相位偏折测量方法包括：S1、调整第一相机、第二相机、屏幕、基础特征点与待测物体至测量位置；S2、利用所述第一相机采集待测物体的相移图像得到第一相机的屏幕像素点；S3、利用所述第二相机获取待测物体对应初始特征点的法向量。
成果亮点
S4、利用所述第一相机的屏幕像素点与待测物体对应初始特征点的法向量得到待测物体的测量特征点；S5、利用所述待测物体的测量特征点得到待测物体的测量结果，减轻屏幕平面度对检测精度的影响，提高传统双目相位偏折测量技术的鲁棒性，并在一定程度上减轻重量，简化结构。
团队介绍
中科院 作为国家在科学技术方面的最高学术机构和全国自然科学与高新技术的综合研究与发展中心，建院以来，中国科学院时刻牢记使命，与科学共进，与祖国同行，以国家富强、人民幸福为己任，人才辈出，硕果累累，为我国科技进步、经济社会发展和国家安全做出了不可替代的重要贡献。
成果资料