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一种测量非局域程度的方法

发布时间: 2023-10-31

来源: 科技服务团

基本信息

合作方式: 技术转让
成果类型: 发明专利
行业领域:
电子信息技术
成果介绍
本发明公开了一种测量非局域程度的方法,包括以下步骤:步骤一、将向列相液晶材料放入到液晶盒内;步骤二、将起偏器、液晶盒、检偏器以及探测器从上至下共轴排放,在液晶盒左侧射入孤子光束,在起偏器上方射入弱信号光;步骤三、用孤子光束引起液晶盒内液晶分子发生偏转,根据晶体光学原理以及琼斯矩阵原理得到弱信号光出射光强以及位相差随材料非局域程度的变化曲线。本发明的一种测量非局域程度的方法,通过信号光出射光强对非局域程度进行定量处理,该方法可以快速地得到向列相液晶的非局域程度。
成果亮点
材料的非局域程度可以分为强非局域、一般非局域、弱非局域、局域。材料的非局域程度决定了光与物质的相互作用引发的性质。光在非局域材料中传输时会诱导材料折射率改变。材料折射率改变区域的宽度与入射光束宽度之比称为材料的非局域程度。通常,测量向列相液晶中非局域程度的方法为:两束互相平行的高斯光束平行入射到向列相液晶盒中,改变入射光束间的距离找到刚好使光束能相互作用的距离,该距离与高斯光束宽度之比为液晶的非局域程度。该方法的缺点是:实验上很难确定两束光刚好相互作用的距离。功率较强的高斯光束进入液晶盒后会产生分子取向效应从而改变液晶盒中分子排列。当入射光束宽度和功率固定时,光束诱导的液晶分子取向角与材料的非局域程度息息相关。此时,用一束弱信号光穿过液晶盒,弱信号光会发生双折射分解成寻常光和非寻常光,穿过液晶盒的非寻常光和寻常光的位相差与液晶分子的排列息息相关。因此,通过弱信号光位相和透射光强的探测可以间接得到向列相液晶的非局域程度。
团队介绍
学校是由哈尔滨科学技术大学、哈尔滨电工学院和哈尔滨工业高等专科学校于1995年合并组建而成,三校均始建于20世纪50年代初期。学校于1998年划转黑龙江省,实行中央与地方共建、以地方为主的管理体制。 截至2023年3月,学校共有4个办学区,其中在哈尔滨市有西、南、东3个办学区,在山东省威海市荣成市设有哈尔滨理工大学威海校区,学校总占地面积***万平方米,教学基础设施面积***万平方米,图书馆藏书***万册,电子图书***万种;设有13个学院、1个教学部,开设65个本科专业;拥有博士后科研流动站7个,博士学位授权一级学科8个、硕士学位授权一级学科22个、专业硕士学位授权类别11个;有教职工2400余人,专任教师1600余人,全日制在校生32000余人
成果资料