本实用新型涉及芯片检测技术领域,具体涉及一种电子芯片检测装置,包括检测台、凹槽以及设于检测台上的检测单元,还包括开设在凹槽两侧的方形槽,所述凹槽内底部固定连接有吸附座,且所述吸附座为工字型,所述方形槽内部均转动连接有圆柱,所述圆柱上设有压紧板与拨杆,所述压紧板用于压紧凹槽内部的电子芯片,所述拨杆用于抬起凹槽的电子芯片,所述检测台设有调节圆柱角度的调节机构,所述吸附座为中空状,且所述吸附座上表面开设有均匀分布的吸附孔。
本实用新型通过调节机构带动拨杆转动,能够抬升电子芯片,使电子芯片上边沿高出凹槽的开口,便于将电子芯片从凹槽内取出,防止电子芯片取出过程中因力度过大而发生损坏。
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评价单位:- (-)
评价时间:2023-10-23
综合评价
该科技成果包括检测台、凹槽以及设于检测台上的检测单元,还包括开设在凹槽两侧的方形槽,通过调节机构带动拨杆转动,能够抬升电子芯片,使电子芯片上边沿高出凹槽的开口,便于将电子芯片从凹槽内取出。该项目成果的思路方向很好,未来市场空间广阔,符合当前政策要求,转化成熟度很高,值得支持推广。
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