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摘要: 本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，具体涉及一种电子芯片检测治具，包括检测底板，所述检测底板上设有检测基座，所述检测基座上设有一组检测探针，所述检测基座的一端设有翻盖，所述翻盖的中部设有与检测探针位置相对的吸附块，所述吸附块的外侧设有缓冲组件，所述吸附块的内部设有吸附腔，所述吸附腔内设有多个伸出吸附块并贯穿于缓冲组件的抽气软管，所述检测基座的一端设有微型真空泵；本实用新型盖上翻盖即可使得电子芯片与检测探针相接触，方便检测工作，检测结束后，掀起翻盖，通过关闭微型真空泵，使得电子芯片在重力作用下与吸附块分离，用手接住即可，避免传统扣取电子芯片的操作，结构简单，操作方便。

主权利要求: 1.一种电子芯片检测治具，包括检测底板（1），所述检测底板（1）上设有检测基座（2），所述检测基座（2）上设有一组检测探针（3），其特征在于，所述检测基座（2）的一端设有翻盖（4），所述翻盖（4）的中部设有与检测探针（3）位置相对的吸附块（5），所述吸附块（5）的外侧设有缓冲组件（6），所述吸附块（5）的内部设有吸附腔（501），所述吸附腔（501）内设有多个伸出吸附块（5）并贯穿于缓冲组件（6）的抽气软管（502），所述检测基座（2）的一端设有微型真空泵（7），所述微型真空泵（7）的输出端通过连接软管（8）与吸附腔（501）连通。