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LEM-1非接触式光电跟踪测头

发布时间: 2022-06-01

来源: 科创项目库

基本信息

合作方式： 技术服务
成果类型： 发明专利
行业领域：
高端产业
成果介绍

近两年我室成功研制的LEM-1非接触式光电跟踪测头采用半光斑成像原理，以半导体激光器作为光源，集激光技术、光电子技术、光学技术和机械技术于一体，配合三坐标测量机可以完成自由曲面的非接触跟踪测量。

成果亮点
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成果资料