需求发布 成果发布 科创案例库 揭榜挂帅
技术经理人 会议展览 科创联合体 项目申报
前沿动态 科技政策 院士开讲 青托工程
科技服务团 学术资源
试点城市(园区) 双创活动周
协作站点 学会服务
问题库 项目库 开源库
English
您所在的位置: 成果库 电子装备的可测试性分析方法及装置

电子装备的可测试性分析方法及装置

发布时间: 2021-11-23

来源: 科技服务团

基本信息

合作方式： 技术转让
成果类型： 发明专利
行业领域：
新一代信息技术产业,信息传输、软件和信息技术服务业
成果介绍

通过对功能层面的信息流分析，大大降低硬件层面测试性多信号流模型的建立。在功能层面即可了解测试性状态，辅助系统人员对测试性的考虑，降低测试性工作的难度，便于推广。

成果亮点
团队介绍
成果资料